Otevřít dokument MATRIX-F II FT-NIR PROCESS SPECTROMETER
GCMSICPMS

MATRIX-F II FT-NIR PROCESS SPECTROMETER

FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Bruker
Zaměření
Průmysl a chemie
Otevřít dokument To Fourier Transform Infrared Spectrometers Coupling Thermal Analyzer
GCMSICPMS

To Fourier Transform Infrared Spectrometers Coupling Thermal Analyzer

FTIR Spektroskopie, Termální analýza
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, Termální analýza
Výrobce
Bruker, NETZSCH
Zaměření
Otevřít dokument About PermaSure+ and the world’s first Ph. Eur. 5.24 compliant FT-IR imaging
GCMSICPMS

About PermaSure+ and the world’s first Ph. Eur. 5.24 compliant FT-IR imaging

FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Bruker
Zaměření
Otevřít dokument A165-MP Filtration Set for Microplastic Analysis and Sample Preparation
GCMSICPMS

A165-MP Filtration Set for Microplastic Analysis and Sample Preparation

FTIR Spektroskopie, Příprava vzorků
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, Příprava vzorků
Výrobce
Bruker
Zaměření
Životní prostředí
Otevřít dokument An insight into the (un)stable protein formulation
GCMSICPMS

An insight into the (un)stable protein formulation

FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Bruker
Zaměření
Farmaceutická analýza
Otevřít dokument Study of Protein Conformation with FT-IR
GCMSICPMS

Study of Protein Conformation with FT-IR

FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Bruker
Zaměření
Proteomika
Otevřít dokument Biomolecules, Cells and Tissue Studied by IR-Spectroscopy
GCMSICPMS

Biomolecules, Cells and Tissue Studied by IR-Spectroscopy

FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Bruker
Zaměření
Farmaceutická analýza
Otevřít dokument Modulation Overcomes Frustration: Investigation of Ultrathin Layers with PM-IRRAS
GCMSICPMS

Modulation Overcomes Frustration: Investigation of Ultrathin Layers with PM-IRRAS

Mikroskopie, FTIR Spektroskopie
Instrumentace
Mikroskopie, FTIR Spektroskopie
Výrobce
Bruker
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Carbon and Oxygen Quantification in Silicon wafers
GCMSICPMS

Carbon and Oxygen Quantification in Silicon wafers

FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Bruker
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Analysis of Contaminations on a Plastic Part using the FT-IR Microscope LUMOS II
GCMSICPMS

Analysis of Contaminations on a Plastic Part using the FT-IR Microscope LUMOS II

FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Bruker
Zaměření
Materiálová analýza