Aplikace se zaměřením na Mikroskopie - strana 14

Otevřít dokument Element Distribution and Phase Analysis of Positive Electrode Active Materials in Black Mass
ICPMS

Element Distribution and Phase Analysis of Positive Electrode Active Materials in Black Mass

Mikroskopie
Instrumentace
Mikroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Sensitivity Evaluation and Example Analysis of Microscopic Targets with Thermoelectrically Cooled MCT Detector
ICPMS

Sensitivity Evaluation and Example Analysis of Microscopic Targets with Thermoelectrically Cooled MCT Detector

FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Otevřít dokument Analysis of Sintered Ore for Steel Manufacturing after Hydrogen Reduction
ICPMS

Analysis of Sintered Ore for Steel Manufacturing after Hydrogen Reduction

Mikroskopie
Instrumentace
Mikroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Životní prostředí
Otevřít dokument Measurement of Microplastics in Mouse Lung Tissue by 3D Measuring Laser Microscope and Infrared and Raman Microscope
ICPMS

Measurement of Microplastics in Mouse Lung Tissue by 3D Measuring Laser Microscope and Infrared and Raman Microscope

Mikroskopie, RAMAN Spektrometrie, FTIR Spektroskopie
Instrumentace
Mikroskopie, RAMAN Spektrometrie, FTIR Spektroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Klinická analýza, Materiálová analýza
Otevřít dokument Innovative failure analysis solutions for advanced packaging
ICPMS

Innovative failure analysis solutions for advanced packaging

Mikroskopie, X-ray, Mechanické zkoušky, Termální analýza
Instrumentace
Mikroskopie, X-ray, Mechanické zkoušky, Termální analýza
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Advanced analysis in automotive manufacturing
ICPMS

Advanced analysis in automotive manufacturing

X-ray, Mikroskopie, Laserová ablace
Instrumentace
X-ray, Mikroskopie, Laserová ablace
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza, Průmysl a chemie
Otevřít dokument Aura PTx System
ICPMS

Aura PTx System

Analýza velikosti částic, Charakterizace částic, Mikroskopie
Instrumentace
Analýza velikosti částic, Charakterizace částic, Mikroskopie
Výrobce
Waters
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Aura CL System
ICPMS

Aura CL System

Analýza velikosti částic, Charakterizace částic, Mikroskopie
Instrumentace
Analýza velikosti částic, Charakterizace částic, Mikroskopie
Výrobce
Waters
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Aura GT System
ICPMS

Aura GT System

Analýza velikosti částic, Charakterizace částic, Mikroskopie
Instrumentace
Analýza velikosti částic, Charakterizace částic, Mikroskopie
Výrobce
Waters
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Cross-Sectional Analysis of Power Semiconductor and Silver Sintering Die Attach Material
ICPMS

Cross-Sectional Analysis of Power Semiconductor and Silver Sintering Die Attach Material

Mikroskopie
Instrumentace
Mikroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Polovodiče