▾
CS
▾
Obor
GCMS
ICPMS
LCMS
Rozcestník
Novinky
Články
Události
Akademie
již brzy
Knihovna
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Marketplace
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
GCMS
ICPMS
LCMS
Účet
Přihlásit se
Registrovat
▾
Novinky
▾
Knihovna
Webináře
Produkty
▾
Společnosti
▾
Kariéra
▾
CS
▾
Databáze
GCMS
LCMS
ICPMS
Zaměření
Farmaceutická analýza
(2)
Forenzní analýza a toxikologie
(1)
Klinická analýza
(9)
Materiálová analýza
(28)
Instrumentace
Iontová chromatografie
(3)
AAS
(4)
Analýza velikosti částic
(4)
Charakterizace částic
(2)
Mikroskopie
Mikroskopie
Výrobce
Frontier Lab
(1)
Shimadzu
(72)
Autor
Agilent Technologies
(10)
Anton Paar
(1)
Bruker Optics
(9)
CZEPAR
(3)
Shimadzu
Shimadzu
Typ Publikace
Aplikace
(36)
Brožury a specifikace
(17)
Ostatní
(11)
Postery
(2)
Rok vydání
Aplikace se zaměřením na Mikroskopie od Shimadzu - strana 6
Otevřít dokument Scanning Probe Microscope /Atomic Force Microscope SPM-9700HT Plus
ICPMS
Scanning Probe Microscope /Atomic Force Microscope SPM-9700HT Plus
Mikroskopie
Instrumentace
Mikroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Otevřít dokument Measurement of Microplastics in Mouse Lung Tissue by 3D Measuring Laser Microscope and Infrared and Raman Microscope
ICPMS
Measurement of Microplastics in Mouse Lung Tissue by 3D Measuring Laser Microscope and Infrared and Raman Microscope
Mikroskopie, RAMAN Spektrometrie, FTIR Spektroskopie
Instrumentace
Mikroskopie, RAMAN Spektrometrie, FTIR Spektroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Klinická analýza, Materiálová analýza
Otevřít dokument State Analysis of Iron Oxides in Sintered Ore for Steel Manufacturing after Hydrogen Reduction
ICPMS
State Analysis of Iron Oxides in Sintered Ore for Steel Manufacturing after Hydrogen Reduction
Mikroskopie
Instrumentace
Mikroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Cross-Sectional Analysis of Power Semiconductor and Silver Sintering Die Attach Material
ICPMS
Cross-Sectional Analysis of Power Semiconductor and Silver Sintering Die Attach Material
Mikroskopie
Instrumentace
Mikroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Sensitivity Evaluation and Example Analysis of Microscopic Targets with Thermoelectrically Cooled MCT Detector
ICPMS
Sensitivity Evaluation and Example Analysis of Microscopic Targets with Thermoelectrically Cooled MCT Detector
FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Otevřít dokument Analysis of Sintered Ore for Steel Manufacturing after Hydrogen Reduction
ICPMS
Analysis of Sintered Ore for Steel Manufacturing after Hydrogen Reduction
Mikroskopie
Instrumentace
Mikroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Životní prostředí
Otevřít dokument Evaluating Electrochemical Activity and Electric Potential inside Cathodes in All-Solid-State Lithium-Ion Batteries
ICPMS
Evaluating Electrochemical Activity and Electric Potential inside Cathodes in All-Solid-State Lithium-Ion Batteries
Mikroskopie
Instrumentace
Mikroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument FTIR Series and Infrared/Raman Microscope Accessories
ICPMS
FTIR Series and Infrared/Raman Microscope Accessories
FTIR Spektroskopie, RAMAN Spektrometrie, Mikroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, RAMAN Spektrometrie, Mikroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Ostatní
Otevřít dokument Three-Point Bending Fatigue Tests of Carbon Fiber Reinforced Plastic Using the SEM Servopulser
ICPMS
Three-Point Bending Fatigue Tests of Carbon Fiber Reinforced Plastic Using the SEM Servopulser
Mikroskopie
Instrumentace
Mikroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Otevřít dokument Three-Point Bending Fatigue Test and Crack Observation of Cracked Specimens Using SEM Servopulser
ICPMS
Three-Point Bending Fatigue Test and Crack Observation of Cracked Specimens Using SEM Servopulser
Mikroskopie, Mechanické zkoušky
Instrumentace
Mikroskopie, Mechanické zkoušky
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Před
1
...
5
6
7
...
Další