Aplikace se zaměřením na NIR Spektroskopie od Agilent Technologies - strana 1

Otevřít dokument The Basics of UV-Vis-NIR Spectrophotometry
LCMSGCMSICPMS

The Basics of UV-Vis-NIR Spectrophotometry

Příručky
| 2024 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie, NIR Spektroskopie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie, NIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Otevřít dokument Agilent Molecular Spectroscopy Safety Information
GCMSICPMSLCMS

Agilent Molecular Spectroscopy Safety Information

Manuály
| 2024 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, NIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, NIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Ostatní
Otevřít dokument Improving Spectral Quality Using Beam Collimation Control
GCMSICPMSLCMS

Improving Spectral Quality Using Beam Collimation Control

Technické články
| 2024 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie, NIR Spektroskopie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie, NIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy
GCMSLCMSICPMS

Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy

Příručky
| 2023 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Measuring the Optical Properties of Photovoltaic Cells
GCMSLCMSICPMS

Measuring the Optical Properties of Photovoltaic Cells

Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance Accessory for the Measurement of Optical Constants of Thin Films
GCMSLCMSICPMS

Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance Accessory for the Measurement of Optical Constants of Thin Films

Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Characterizing Sub-Nanometer Narrow Bandpass Filters Using an Agilent Cary UV-Vis-NIR
GCMSLCMSICPMS

Characterizing Sub-Nanometer Narrow Bandpass Filters Using an Agilent Cary UV-Vis-NIR

Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Measurement of Diffuse Reflection from Catalyst Powders
GCMSLCMSICPMS

Measurement of Diffuse Reflection from Catalyst Powders

Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument High Temperature Dehydration Studies Using UV-Vis-NIR Diffuse Reflectance Spectroscopy
GCMSLCMSICPMS

High Temperature Dehydration Studies Using UV-Vis-NIR Diffuse Reflectance Spectroscopy

Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Agilent Cary 7000 universal measurement spectrophotometer
GCMSLCMSICPMS

Agilent Cary 7000 universal measurement spectrophotometer

Brožury a specifikace
| 2022 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření