Aplikace se zaměřením na X-ray - strana 13
Otevřít dokument Optimizing lithium-ion battery recycling operations using handheld XRF analysis
ICPMS
Optimizing lithium-ion battery recycling operations using handheld XRF analysis
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Observation of Rubber Fatigue Testing Specimens Using Two Types of X-Ray CT Systems
ICPMS
Observation of Rubber Fatigue Testing Specimens Using Two Types of X-Ray CT Systems
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Precision and Detail Ensured by Scanning Electron Microscopy
ICPMS
Precision and Detail Ensured by Scanning Electron Microscopy
X-ray, Mikroskopie
Instrumentace
X-ray, Mikroskopie
Výrobce
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Analysis of Black Mass Using ICPE-9800 for Enhancing Accuracy of EDX-7200 Results
ICPMS
Analysis of Black Mass Using ICPE-9800 for Enhancing Accuracy of EDX-7200 Results
ICP-OES, X-ray
Instrumentace
ICP-OES, X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Průmysl a chemie
Otevřít dokument Screening Analysis of Trace Heavy Metals in Powdered Milk
ICPMS
Screening Analysis of Trace Heavy Metals in Powdered Milk
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Potraviny a zemědělství
Otevřít dokument Quantitative Analysis of Copper Alloys and Differentiation of Sample Types by Matching Function
ICPMS
Quantitative Analysis of Copper Alloys and Differentiation of Sample Types by Matching Function
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Observation of Joined Metal and Rubber Parts Using a Microfocus X-Ray CT System
ICPMS
Observation of Joined Metal and Rubber Parts Using a Microfocus X-Ray CT System
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Observation of Urethane Foam Using a Microfocus X-Ray CT System
ICPMS
Observation of Urethane Foam Using a Microfocus X-Ray CT System
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Přesnost a detail díky skenovací elektronové mikroskopii
ICPMS
Přesnost a detail díky skenovací elektronové mikroskopii
Mikroskopie, X-ray
Instrumentace
Mikroskopie, X-ray
Výrobce
Zaměření
Materiálová analýza
