Aplikace z oblasti Materiálová analýza - strana 2

Otevřít dokument JEOL MS Tips
GCMS

JEOL MS Tips

GC/MSD, GC/TOF
Instrumentace
GC/MSD, GC/TOF
Výrobce
JEOL
Zaměření
Potraviny a zemědělství, Průmysl a chemie, Materiálová analýza
Otevřít dokument Comprehensive 2D GC coupled with JEOL GC-HRTOFMS: GCxGC Applications
GCMS

Comprehensive 2D GC coupled with JEOL GC-HRTOFMS: GCxGC Applications

GCxGC, GC/MSD, Pyrolýza, GC/TOF
Instrumentace
GCxGC, GC/MSD, Pyrolýza, GC/TOF
Výrobce
JEOL
Zaměření
Životní prostředí, Potraviny a zemědělství, Průmysl a chemie, Materiálová analýza, Klinická analýza
Otevřít dokument The use of Kendrick mass defect plots, a new feature in GC Image™ software for GC x GC/high resolution mass spectrometric data analysis: an application on the identification of halogenated contaminants in electronic waste
GCMS

The use of Kendrick mass defect plots, a new feature in GC Image™ software for GC x GC/high resolution mass spectrometric data analysis: an application on the identification of halogenated contaminants in electronic waste

GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, GC/TOF, Software
Instrumentace
GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, GC/TOF, Software
Výrobce
JEOL, ZOEX/JSB
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče