Aplikace z oblasti Materiálová analýza od Agilent Technologies - strana 11

Otevřít dokument Measuring the UV protection factor (UPF) of fabrics and clothing
LCMSICPMS

Measuring the UV protection factor (UPF) of fabrics and clothing

Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Characterizing sub-nanometer narrow bandpass filters using a Cary 400/500
LCMSICPMS

Characterizing sub-nanometer narrow bandpass filters using a Cary 400/500

Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument The characterization of optical components using the Cary Deep UV spectrophotometer and ‘VW’ specular reflectance accessory
LCMSICPMS

The characterization of optical components using the Cary Deep UV spectrophotometer and ‘VW’ specular reflectance accessory

Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument The deep ultraviolet spectroscopic properties of a next-generation photoresist
LCMSICPMS

The deep ultraviolet spectroscopic properties of a next-generation photoresist

Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Quantitative analysis of tint in polymer pellets and disks
LCMSICPMS

Quantitative analysis of tint in polymer pellets and disks

Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Measuring optical filters
LCMSICPMS

Measuring optical filters

Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Measuring the cover and shade protection factors of synthetic shadecloth
LCMSICPMS

Measuring the cover and shade protection factors of synthetic shadecloth

Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument The determination of thin film thickness using reflectance spectroscopy
LCMSICPMS

The determination of thin film thickness using reflectance spectroscopy

Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Analysis of High Purity Titanium Using an Agilent 9500 ICP-QQQ
ICPMS

Analysis of High Purity Titanium Using an Agilent 9500 ICP-QQQ

Aplikace
| 2026 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Improving Resolution of Single Nanoparticles Using ICP-MS and Shorter Dwell Times
ICPMS

Improving Resolution of Single Nanoparticles Using ICP-MS and Shorter Dwell Times

Technické články
| 2026 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza