▾
CS
▾
Obor
GCMS
ICPMS
LCMS
Rozcestník
Novinky
Články
Události
Akademie
již brzy
Knihovna
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Marketplace
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
GCMS
ICPMS
LCMS
Účet
Přihlásit se
Registrovat
▾
Novinky
▾
Knihovna
Webináře
Produkty
▾
Společnosti
▾
Kariéra
▾
CS
▾
Databáze
GCMS
LCMS
ICPMS
Zaměření
Farmaceutická analýza
(11)
Forenzní analýza a toxikologie
(4)
Klinická analýza
(4)
Materiálová analýza
Materiálová analýza
Instrumentace
AAS
(4)
Analýza velikosti částic
(1)
Elementární analýza
(1)
FTIR Spektroskopie
(52)
Výrobce
Agilent Technologies
(246)
Elemental Scientific
(1)
GERSTEL
(1)
Markes
(5)
Autor
ARC
(1)
Agilent Technologies
Anatune
(3)
Anton Paar
(54)
Agilent Technologies
Typ Publikace
Aplikace
(198)
Brožury a specifikace
(7)
Manuály
(2)
Ostatní
(13)
Rok vydání
Aplikace z oblasti Materiálová analýza od Agilent Technologies - strana 1
Otevřít dokument Improving Spectral Quality Using Beam Collimation Control
GCMS
ICPMS
LCMS
Improving Spectral Quality Using Beam Collimation Control
UV–VIS Spektrofotometrie, NIR Spektroskopie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie, NIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy
GCMS
LCMS
ICPMS
Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Measuring the Optical Properties of Photovoltaic Cells
GCMS
LCMS
ICPMS
Measuring the Optical Properties of Photovoltaic Cells
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance Accessory for the Measurement of Optical Constants of Thin Films
GCMS
LCMS
ICPMS
Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance Accessory for the Measurement of Optical Constants of Thin Films
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Characterizing Sub-Nanometer Narrow Bandpass Filters Using an Agilent Cary UV-Vis-NIR
GCMS
LCMS
ICPMS
Characterizing Sub-Nanometer Narrow Bandpass Filters Using an Agilent Cary UV-Vis-NIR
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Measurement of Diffuse Reflection from Catalyst Powders
GCMS
LCMS
ICPMS
Measurement of Diffuse Reflection from Catalyst Powders
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument High Temperature Dehydration Studies Using UV-Vis-NIR Diffuse Reflectance Spectroscopy
GCMS
LCMS
ICPMS
High Temperature Dehydration Studies Using UV-Vis-NIR Diffuse Reflectance Spectroscopy
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Handbook of ICP-QQQ Applications using the Agilent 8800 and 8900
GCMS
LCMS
ICPMS
Handbook of ICP-QQQ Applications using the Agilent 8800 and 8900
GC, HPLC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Instrumentace
GC, HPLC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies, Elemental Scientific
Zaměření
Životní prostředí, Potraviny a zemědělství, Průmysl a chemie, Farmaceutická analýza, Materiálová analýza, Polovodiče, Klinická analýza
Otevřít dokument A Faster, More Accurate Way of Characterizing Cube Beamsplitters
GCMS
LCMS
ICPMS
A Faster, More Accurate Way of Characterizing Cube Beamsplitters
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Optical Characterization of Thin Films
GCMS
LCMS
ICPMS
Optical Characterization of Thin Films
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Před
1
2
...
Další