Aplikace z oblasti Materiálová analýza se zaměřením na GC/HRMS - strana 1

Otevřít dokument 16th Multidimensional Chromatography Workshop Abstract book
GCMSLCMS

16th Multidimensional Chromatography Workshop Abstract book

Ostatní
| 2025 | MDCW
GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, SPME, GC/TOF, GC/SQ, Software, LC/HRMS, LC/MS, SFC, 2D-LC, GPC/SEC
Instrumentace
GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, SPME, GC/TOF, GC/SQ, Software, LC/HRMS, LC/MS, SFC, 2D-LC, GPC/SEC
Výrobce
JEOL, LECO
Zaměření
Životní prostředí, Potraviny a zemědělství, Průmysl a chemie, Farmaceutická analýza, Materiálová analýza
Otevřít dokument 15th Multidimensional Chromatography Workshop Abstract book
GCMSLCMS

15th Multidimensional Chromatography Workshop Abstract book

Ostatní
| 2024 | MDCW
GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, SPME, GC/TOF, GC/SQ, Software, LC/HRMS, LC/MS, SFC, 2D-LC, GPC/SEC
Instrumentace
GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, SPME, GC/TOF, GC/SQ, Software, LC/HRMS, LC/MS, SFC, 2D-LC, GPC/SEC
Výrobce
JEOL, LECO, Plasmion
Zaměření
Životní prostředí, Potraviny a zemědělství, Průmysl a chemie, Farmaceutická analýza, Materiálová analýza
Otevřít dokument Ion Exchange Resin Analysis by using Pyrolysis-GCxGC-MS
GCMS

Ion Exchange Resin Analysis by using Pyrolysis-GCxGC-MS

Aplikace
| 2018 | JEOL
GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, Pyrolýza, GC/TOF
Instrumentace
GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, Pyrolýza, GC/TOF
Výrobce
JEOL
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument AccuTOF GC series Applications Notebook
GCMS

AccuTOF GC series Applications Notebook

Aplikace
| 2016 | JEOL
GC, GCxGC, GC/HRMS, SPME, Termální desorpce, Pyrolýza, GC/TOF
Instrumentace
GC, GCxGC, GC/HRMS, SPME, Termální desorpce, Pyrolýza, GC/TOF
Výrobce
Agilent Technologies, JEOL
Zaměření
Životní prostředí, Potraviny a zemědělství, Forenzní analýza a toxikologie, Průmysl a chemie, Materiálová analýza, Polovodiče, Ostatní
Otevřít dokument The use of Kendrick mass defect plots, a new feature in GC Image™ software for GC x GC/high resolution mass spectrometric data analysis: an application on the identification of halogenated contaminants in electronic waste
GCMS

The use of Kendrick mass defect plots, a new feature in GC Image™ software for GC x GC/high resolution mass spectrometric data analysis: an application on the identification of halogenated contaminants in electronic waste

Aplikace
| N/A | ZOEX/JSB
GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, GC/TOF, Software
Instrumentace
GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, GC/TOF, Software
Výrobce
JEOL, ZOEX/JSB
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče