Aplikace z oblasti Materiálová analýza se zaměřením na NIR Spektroskopie - strana 2

Otevřít dokument Instruments for Analyzing / Evaluating Electronic Device
GCMSLCMSICPMS

Instruments for Analyzing / Evaluating Electronic Device

Brožury a specifikace
| 2022 | Shimadzu
GC/MSD, HeadSpace, Termální desorpce, Pyrolýza, GC/SQ, Iontová chromatografie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP-OES, AAS, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie, X-ray, TOC
Instrumentace
GC/MSD, HeadSpace, Termální desorpce, Pyrolýza, GC/SQ, Iontová chromatografie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP-OES, AAS, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie, X-ray, TOC
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Spectroelectrochemistry Applications Book
GCMSLCMSICPMS

Spectroelectrochemistry Applications Book

Příručky
| 2022 | Metrohm
RAMAN Spektrometrie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, Elektrochemie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, Elektrochemie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza
Otevřít dokument A Faster, More Accurate Way of Characterizing Cube Beamsplitters
GCMSLCMSICPMS

A Faster, More Accurate Way of Characterizing Cube Beamsplitters

Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Optical Characterization of Thin Films
GCMSLCMSICPMS

Optical Characterization of Thin Films

Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Gaining Deeper Insights into Thin Film Response
GCMSLCMSICPMS

Gaining Deeper Insights into Thin Film Response

Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Guide to Lithium-ion Battery Solutions
GCMSLCMSICPMS

Guide to Lithium-ion Battery Solutions

Příručky
| 2022 | Shimadzu
Mechanické zkoušky, Iontová chromatografie, NIR Spektroskopie, GC, GC/MSD, GC/SQ
Instrumentace
Mechanické zkoušky, Iontová chromatografie, NIR Spektroskopie, GC, GC/MSD, GC/SQ
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument LiDAR Evaluation System: Measurement of Transmittance/Reflectance of Optical Materials
GCMSLCMSICPMS

LiDAR Evaluation System: Measurement of Transmittance/Reflectance of Optical Materials

Aplikace
| 2021 | Shimadzu
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements
GCMSLCMSICPMS

Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements

Aplikace
| 2020 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Investigation of Dichroism by Spectrophotometric Methods
GCMSLCMSICPMS

Investigation of Dichroism by Spectrophotometric Methods

Aplikace
| 2019 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Optical Characteristics and Thickness of 2-layered Structures
GCMSLCMSICPMS

Optical Characteristics and Thickness of 2-layered Structures

Aplikace
| 2018 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza