▾
CS
▾
Obor
GCMS
ICPMS
LCMS
Rozcestník
Novinky
Články
Události
Akademie
již brzy
Knihovna
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Marketplace
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
GCMS
ICPMS
LCMS
Účet
Přihlásit se
Registrovat
▾
Novinky
▾
Knihovna
Webináře
Produkty
▾
Společnosti
▾
Kariéra
▾
CS
▾
Databáze
GCMS
LCMS
ICPMS
Zaměření
Farmaceutická analýza
(12)
Forenzní analýza a toxikologie
(11)
Klinická analýza
(10)
Lipidomika
(8)
Polovodiče
Polovodiče
Instrumentace
Iontová chromatografie
(16)
2D-LC
(8)
AAS
(3)
Elektrochemie
(4)
Výrobce
Agilent Technologies
(77)
Bruker
(3)
Buck Scientific
(1)
CDS Analytical
(2)
Autor
Agilent Technologies
(75)
Bruker Optics
(3)
CDS Analytical
(2)
GL Sciences
(1)
Typ Publikace
Aplikace
(108)
Brožury a specifikace
(6)
Manuály
(1)
Ostatní
(19)
Rok vydání
Aplikace z oblasti Polovodiče - strana 7
Otevřít dokument A Dynamic Lab Servicing the Semiconductor Industry
ICPMS
A Dynamic Lab Servicing the Semiconductor Industry
Příprava vzorků, Spotřební materiál
Instrumentace
Příprava vzorků, Spotřební materiál
Výrobce
Savillex
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Ultrapure Process Chemicals Analysis by ICP-QQQ with Hot Plasma Conditions
ICPMS
Ultrapure Process Chemicals Analysis by ICP-QQQ with Hot Plasma Conditions
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Trace Elemental Analysis of Trichlorosilane by Agilent ICP-MS
ICPMS
Trace Elemental Analysis of Trichlorosilane by Agilent ICP-MS
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Analysis of Ultratrace Impurities in High Silicon Matrix Samples by ICP-QQQ
ICPMS
Analysis of Ultratrace Impurities in High Silicon Matrix Samples by ICP-QQQ
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Lowering the Cost of Fluoropolymer Components in Semiconductor Manufacturing
ICPMS
Lowering the Cost of Fluoropolymer Components in Semiconductor Manufacturing
Spotřební materiál
Instrumentace
Spotřební materiál
Výrobce
Savillex
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Using ICP-MS/MS with M-Lens for the analysis of high silicon matrix samples
ICPMS
Using ICP-MS/MS with M-Lens for the analysis of high silicon matrix samples
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Agilent 7900s ICP-MS for Semiconductor Applications
ICPMS
Agilent 7900s ICP-MS for Semiconductor Applications
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Agilent Atomic Spectroscopy Solutions for the Semiconductor Industry
ICPMS
Agilent Atomic Spectroscopy Solutions for the Semiconductor Industry
ICP/MS, ICP-OES, AAS, ICP/MS/MS, GD/MP/ICP-AES
Instrumentace
ICP/MS, ICP-OES, AAS, ICP/MS/MS, GD/MP/ICP-AES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Analysis of 15 nm Iron Nanoparticles in Organic Solvents by spICP-MS
ICPMS
Analysis of 15 nm Iron Nanoparticles in Organic Solvents by spICP-MS
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Technical Overview and Performance Capability of the Agilent 7900s ICP-MS for Semiconductor Applications
ICPMS
Technical Overview and Performance Capability of the Agilent 7900s ICP-MS for Semiconductor Applications
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Před
1
...
6
7
8
...
Další