Aplikace z oblasti Polovodiče - strana 3

Otevřít dokument Measuring Inorganic Impurities in Semiconductor Manufacturing
GCMSICPMS

Measuring Inorganic Impurities in Semiconductor Manufacturing

Příručky
| 2022 | Agilent Technologies
GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Instrumentace
GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Carbon and Oxygen Quantification in Silicon wafers
GCMSICPMS

Carbon and Oxygen Quantification in Silicon wafers

Aplikace
| 2021 | Bruker Optics
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Bruker
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Analysis of a CMOS Chip Circuit Board using the stand-alone FTIR Microscope LUMOS II
GCMSICPMS

Analysis of a CMOS Chip Circuit Board using the stand-alone FTIR Microscope LUMOS II

Aplikace
| 2021 | Bruker Optics
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Bruker
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Infrared Photoluminescence Spectroscopy
GCMSICPMS

Infrared Photoluminescence Spectroscopy

Aplikace
| 2021 | Bruker Optics
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Bruker
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Quality control of semiconductor acid baths as per ASTM E1655 – Time- and cost-efficient with NIRS
GCMSICPMS

Quality control of semiconductor acid baths as per ASTM E1655 – Time- and cost-efficient with NIRS

Technické články
| 2021 | Metrohm
NIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Quality Control of Laminates
GCMSICPMS

Quality Control of Laminates

Aplikace
| 2021 | Metrohm
NIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Determination of Trace Impurities in Electronic Grade Arsine by GC-ICP-QQQ
GCMSICPMS

Determination of Trace Impurities in Electronic Grade Arsine by GC-ICP-QQQ

Aplikace
| 2020 | Agilent Technologies
GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Instrumentace
GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Gas chromatographic separation of metal carbonyls in carbon monoxide with detection using the Agilent 8800 ICP-QQQ
GCMSICPMS

Gas chromatographic separation of metal carbonyls in carbon monoxide with detection using the Agilent 8800 ICP-QQQ

Aplikace
| 2016 | Agilent Technologies
GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Instrumentace
GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Polovodiče
Otevřít dokument Sub-ppb detection limits for hydride gas contaminants using GC-ICP-QQQ
GCMSICPMS

Sub-ppb detection limits for hydride gas contaminants using GC-ICP-QQQ

Aplikace
| 2015 | Agilent Technologies
GC, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Instrumentace
GC, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Polovodiče
Otevřít dokument Damage-free failure/defect analysis in electronics and semiconductor industries using micro-ATR FTIR imaging
GCMSICPMS

Damage-free failure/defect analysis in electronics and semiconductor industries using micro-ATR FTIR imaging

Aplikace
| 2014 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče