Aplikace z oblasti Polovodiče od Agilent Technologies - strana 2

Otevřít dokument Agilent ICP-MS Journal (November 2021, Issue 86)
LCMSICPMS

Agilent ICP-MS Journal (November 2021, Issue 86)

Iontová chromatografie, IC-MS, ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
Iontová chromatografie, IC-MS, ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies, Metrohm, CEM
Zaměření
Životní prostředí, Potraviny a zemědělství, Polovodiče
Otevřít dokument Agilent ICP-MS Journal (October 2020, Issue 82)
LCMSICPMS

Agilent ICP-MS Journal (October 2020, Issue 82)

HPLC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Instrumentace
HPLC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí, Potraviny a zemědělství, Průmysl a chemie, Polovodiče
Otevřít dokument The deep ultraviolet spectroscopic properties of a next-generation photoresist
LCMSICPMS

The deep ultraviolet spectroscopic properties of a next-generation photoresist

UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Agilent 9500 ICP‑QQQ with m‑Lens for Ultratrace Analysis of High‑Purity Reagents
ICPMS

Agilent 9500 ICP‑QQQ with m‑Lens for Ultratrace Analysis of High‑Purity Reagents

ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Consumable Solutions for Semiconductor Analysis
ICPMS

Consumable Solutions for Semiconductor Analysis

ICP/MS/MS, ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS/MS, ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Trace Elemental Analysis of Precursor Materials Using ICP-MS/MS
ICPMS

Trace Elemental Analysis of Precursor Materials Using ICP-MS/MS

ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Multi-Elemental Analysis of Lithium Aluminum Titanium Phosphate by Automated ICP-OES
ICPMS

Multi-Elemental Analysis of Lithium Aluminum Titanium Phosphate by Automated ICP-OES

ICP-OES
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče, Průmysl a chemie
Otevřít dokument Ultratrace Impurity Analysis of Ultrapure Water with Low Boron Background by ICP-MS/MS
ICPMS

Ultratrace Impurity Analysis of Ultrapure Water with Low Boron Background by ICP-MS/MS

ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Determination of Ultratrace Impurities in Semiconductor Photoresist Using ICP-MS/MS
ICPMS

Determination of Ultratrace Impurities in Semiconductor Photoresist Using ICP-MS/MS

ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Automated Surface Analysis of Metal Contaminants in Silicon Wafers by Online VPD-ICP-MS/MS
ICPMS

Automated Surface Analysis of Metal Contaminants in Silicon Wafers by Online VPD-ICP-MS/MS

ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče