Aplikace z oblasti Polovodiče od Agilent Technologies - strana 1

Otevřít dokument A Practical Guide for Understanding and Testing Hazardous Substances in Electrical and Electronic Products
LCMSGCMSICPMS

A Practical Guide for Understanding and Testing Hazardous Substances in Electrical and Electronic Products

GC/MSD, LC/MS, LC/MS/MS, ICP-OES, AAS, ICP/MS, UV–VIS Spektrofotometrie, GC/MS/MS, GC/HRMS, LC/TOF, LC/HRMS, GC/Q-TOF, GC/QQQ, LC/QQQ, LC/SQ, HPLC, FTIR Spektroskopie
Instrumentace
GC/MSD, LC/MS, LC/MS/MS, ICP-OES, AAS, ICP/MS, UV–VIS Spektrofotometrie, GC/MS/MS, GC/HRMS, LC/TOF, LC/HRMS, GC/Q-TOF, GC/QQQ, LC/QQQ, LC/SQ, HPLC, FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy
GCMSLCMSICPMS

Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Handbook of ICP-QQQ Applications using the Agilent 8800 and 8900
GCMSLCMSICPMS

Handbook of ICP-QQQ Applications using the Agilent 8800 and 8900

GC, HPLC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Instrumentace
GC, HPLC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies, Elemental Scientific
Zaměření
Životní prostředí, Potraviny a zemědělství, Průmysl a chemie, Farmaceutická analýza, Materiálová analýza, Polovodiče, Klinická analýza
Otevřít dokument Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements
GCMSLCMSICPMS

Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Measuring the optical properties of photovoltaic cells using the Agilent Cary 5000 UV-Vis-NIR spectrophotometer and the External DRA-2500
GCMSLCMSICPMS

Measuring the optical properties of photovoltaic cells using the Agilent Cary 5000 UV-Vis-NIR spectrophotometer and the External DRA-2500

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Measuring Inorganic Impurities in Semiconductor Manufacturing
GCMSICPMS

Measuring Inorganic Impurities in Semiconductor Manufacturing

GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Instrumentace
GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Determination of Trace Impurities in Electronic Grade Arsine by GC-ICP-QQQ
GCMSICPMS

Determination of Trace Impurities in Electronic Grade Arsine by GC-ICP-QQQ

GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Instrumentace
GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Gas chromatographic separation of metal carbonyls in carbon monoxide with detection using the Agilent 8800 ICP-QQQ
GCMSICPMS

Gas chromatographic separation of metal carbonyls in carbon monoxide with detection using the Agilent 8800 ICP-QQQ

GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Instrumentace
GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Polovodiče
Otevřít dokument Sub-ppb detection limits for hydride gas contaminants using GC-ICP-QQQ
GCMSICPMS

Sub-ppb detection limits for hydride gas contaminants using GC-ICP-QQQ

GC, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Instrumentace
GC, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Polovodiče
Otevřít dokument Damage-free failure/defect analysis in electronics and semiconductor industries using micro-ATR FTIR imaging
GCMSICPMS

Damage-free failure/defect analysis in electronics and semiconductor industries using micro-ATR FTIR imaging

FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče