▾
CS
▾
Obor
GCMS
ICPMS
LCMS
Rozcestník
Novinky
Články
Události
Akademie
již brzy
Knihovna
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Marketplace
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
GCMS
ICPMS
LCMS
Účet
Přihlásit se
Registrovat
▾
Novinky
▾
Knihovna
Webináře
Produkty
▾
Společnosti
▾
Kariéra
▾
CS
▾
Databáze
GCMS
LCMS
ICPMS
Zaměření
Farmaceutická analýza
(8)
Forenzní analýza a toxikologie
(8)
Klinická analýza
(8)
Lipidomika
(8)
Polovodiče
Polovodiče
Instrumentace
Iontová chromatografie
(1)
2D-LC
(8)
AAS
(2)
Elektrochemie
(1)
FTIR Spektroskopie
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
(2)
Bruker
(3)
Shimadzu
(3)
Thermo Fisher Scientific
(1)
Autor
Agilent Technologies
(2)
Bruker Optics
(3)
Shimadzu
(3)
Thermo Fisher Scientific
(1)
Typ Publikace
Aplikace
(6)
Brožury a specifikace
(3)
Ostatní
(8)
Rok vydání
Aplikace z oblasti Polovodiče se zaměřením na FTIR Spektroskopie - strana 2
Otevřít dokument Evaluation of Surface Carbon on Lithium-Ion Battery Cathode Active Materials Using a TOC Analyzer and Infrared/Raman Microscope
ICPMS
GCMS
Evaluation of Surface Carbon on Lithium-Ion Battery Cathode Active Materials Using a TOC Analyzer and Infrared/Raman Microscope
RAMAN Spektrometrie, TOC, FTIR Spektroskopie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie, TOC, FTIR Spektroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Carbon and Oxygen Quantification in Silicon wafers
GCMS
ICPMS
Carbon and Oxygen Quantification in Silicon wafers
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Bruker
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Analysis of a CMOS Chip Circuit Board using the stand-alone FTIR Microscope LUMOS II
GCMS
ICPMS
Analysis of a CMOS Chip Circuit Board using the stand-alone FTIR Microscope LUMOS II
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Bruker
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Infrared Photoluminescence Spectroscopy
GCMS
ICPMS
Infrared Photoluminescence Spectroscopy
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Bruker
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Damage-free failure/defect analysis in electronics and semiconductor industries using micro-ATR FTIR imaging
GCMS
ICPMS
Damage-free failure/defect analysis in electronics and semiconductor industries using micro-ATR FTIR imaging
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Equipment Used in Semiconductor Manufacturing Processes and Evaluation Examples
GCMS
Equipment Used in Semiconductor Manufacturing Processes and Evaluation Examples
GC/MSD, TOC, LC/MS, LC/MS/MS, LC/QQQ, GC/SQ, Mikroskopie, FTIR Spektroskopie, X-ray, Mechanické zkoušky, HPLC, Elementární analýza, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
GC/MSD, TOC, LC/MS, LC/MS/MS, LC/QQQ, GC/SQ, Mikroskopie, FTIR Spektroskopie, X-ray, Mechanické zkoušky, HPLC, Elementární analýza, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Measuring destruction efficiency of greenhouse gases released by semiconductor fabrication tools
GCMS
Measuring destruction efficiency of greenhouse gases released by semiconductor fabrication tools
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Polovodiče
Před
1
2
Další